<hi xmlns="http://www.tei-c.org/ns/1.0" rend="italic">Prof. Dr. Ralph Ewerth</hi> (Hannover) weist auf die großen Fortschritte hin, die Deep Learning für die Mustererkennung von audiovisuellen Daten gebrachthat. Von besonderem Interesse ist, für welche Analysen (z.B. Szenengrenzen, Kamerabewegung, Spracherkennung) Methoden direkt anwendbar sind und welche neuen Möglichkeiten sich für die systematische Filmanalyse ergeben. Weiterhin ist eine offene Fragen, wie solche Algorithmen auf einfache Weise für Forschende in den Filmwissenschaften verfügbar und anwendbar werden. Hierzu können Ergebnisse des DFG-Projekts „TIB AV Analytics“ diskutiert werden, im Rahmen dessen in interdisziplinärer Kooperation zwischen Filmwissenschaft und Informatik eine offene Web-basierte Analyse-Plattform für diese Zwecke entwickelt wird.